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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序作者升序作者降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序 非接触式晶片厚度测量装置及方法 专利 专利号: 200910199928.6, 申请日期: 2011-01-01, 公开日期: 2011-07-07 作者:  1 陈晓静 2 魏彦锋 3 张传杰 4 徐庆庆 5 孙瑞赟 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2011/07/07