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应用于外差探测啁啾调幅激光测距装置的多周期调制方法 专利
专利号: 201010107427.3, 申请日期: 2012-01-01, 公开日期: 2013-01-14
作者:  1 孟昭华 2 洪光烈 3 舒嵘
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