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科研机构
上海技术物理研究所 [2]
内容类型
专利 [2]
发表日期
2009 [1]
2008 [1]
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推帚式光谱成像仪的宽视场及高分辨率的成像结构
专利
专利号: 200510024481.0, 申请日期: 2009-01-01, 公开日期: 2011-07-06
作者:
1王建宇,2何志平,3舒嵘,4薛永祺,5方抗美
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提交时间:2011/07/06
成像光谱仪的像面检校结构
专利
专利号: 200410066228.7, 申请日期: 2008-01-01, 公开日期: 2011-07-06
作者:
1 何志平 2 方抗美 3 胡培新 4 舒嵘 5 王建宇 6 薛永祺
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提交时间:2011/07/06
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