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用以測試半導體雷射模組之裝置與方法 专利
专利号: TWI222520B, 申请日期: 2004-10-21, 公开日期: 2004-10-21
作者:  小野晴義;  馬場功
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光モジュール試験装置及び光モジュール特性の測定方法 专利
专利号: JP2003017789A, 申请日期: 2003-01-17, 公开日期: 2003-01-17
作者:  小野 晴義;  馬場 功
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光パワー測定方法及び装置 专利
专利号: JP2002048642A, 申请日期: 2002-02-15, 公开日期: 2002-02-15
作者:  小野 晴義;  椎葉 一美;  馬場 功
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光学ピックアップ装置 专利
专利号: JP1997297930A, 申请日期: 1997-11-18, 公开日期: 1997-11-18
作者:  馬場 友彦;  冨山 孝道;  山崎 雅功
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