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| Guidelines for the use and interpretation of assays for monitoring autophagy (4th edition) 期刊论文
AUTOPHAGY, 2021, 卷号: 17
作者: Klionsky, Daniel J.; Abdel-Aziz, Amal Kamal; Abdelfatah, Sara; Abdellatif, Mahmoud; Abdoli, Asghar
  收藏 | 浏览/下载：278/0 | 提交时间：2021/05/31
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| In Vitro Bactericidal Activity of Trimethoprim-Sulfamethoxazole/Colistin Combination Against Carbapenem-Resistant Klebsiella pneumoniae Clinical Isolates 期刊论文
MICROBIAL DRUG RESISTANCE, 2019, 卷号: 25, 期号: 2
作者: Su, Jiachun; Xu, Xiaogang; Zheng, Yonggui; Guo, Yan; Guo, Qinglan
收藏 | 浏览/下载：17/0 | 提交时间：2019/12/05
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| Excessive miR-25-3p maturation via N-6-methyladenosine stimulated by cigarette smoke promotes pancreatic cancer progression 期刊论文
2019, 卷号: 10, 期号: 1, 页码: 1858
作者: Zhang, Jialiang; Bai, Ruihong; Li, Mei; Ye, Huilin; Wu, Chen
收藏 | 浏览/下载：31/0 | 提交时间：2020/01/03 |
| PIWI-interacting RNA-36712 restrains breast cancer progression and chemoresistance by interaction with SEPW1 pseudogene SEPW1P RNA 期刊论文
2019, 卷号: 18, 期号: 1, 页码: 9
作者: Tan, Liping; Mai, Dongmei; Zhang, Bailin; Jiang, Xiaobing; Zhang, Jialiang
收藏 | 浏览/下载：34/0 | 提交时间：2020/01/03
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| Total dose effects of 28nm FD-SOI CMOS transistors 会议论文
作者: Kuang Y(匡勇); Bu JH(卜建辉) ; Li B(李博); Gao LC(高林春); Liang CP(梁春平)
收藏 | 浏览/下载：26/0 | 提交时间：2019/05/10 |
| Total dose effect of Al2O3-based metal-oxide-semiconductor structures and its mechanism under gamma-ray irradiation 期刊论文
Semiconductor Science and Technology, 2018
作者: Gao JT(高见头); Li DL(李多力); Li BH(李彬鸿); Li B(李博); Zheng ZS(郑中山)
收藏 | 浏览/下载：16/0 | 提交时间：2019/03/27 |
| Radiation and Annealing Characteristics of Interface traps in SOI NMOSFETs by the Direct-Current Current-Voltage Technique 会议论文
作者: Li YY(李洋洋); Li XJ(李晓静); Li B(李博); Gao LC(高林春); Yan WW(闫薇薇)
收藏 | 浏览/下载：42/0 | 提交时间：2019/05/09 |
| Investigation of interface traps at Si/SiO2 interface of SOI pMOSFETs induced by Fowler–Nordheim tunneling stress using the DCIV method 期刊论文
Applied Physics A, 2018
作者: Wang RH(王瑞恒); Ceng CB(曾传滨); Li XJ(李晓静); Han ZS(韩郑生); Luo JJ(罗家俊)
收藏 | 浏览/下载：13/0 | 提交时间：2019/03/27 |
| Back gate impact on SEU Characterization of a Double SOI 4k-bit SRAM 会议论文
作者: Gao JT(高见头); Li BH(李彬鸿); Huang Y(黄杨); Li B(李博); Zhao FZ(赵发展)
收藏 | 浏览/下载：51/0 | 提交时间：2019/05/09 |
| DCIV 技术提取辐照前后 PDSOI 器件背栅界面态密度 期刊论文
微电子学与计算机, 2018
作者: 李晓静; 韩郑生
收藏 | 浏览/下载：25/0 | 提交时间：2019/03/29 |
