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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序作者升序作者降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序 基于可控多扫描使能信号的片上系统TR-TC联合测试成本模型 期刊论文 上海交通大学学报, 2011, 卷号: 45, 页码: 1026-1030 作者:  张金艺[1];  黄徐辉[2];  蔡万林[3];  翁寒一[4] 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/04/30 全速测试  转换故障  扫描使能  测试成本   多级排序算法运用于片上系统内嵌逻辑芯核测试调度的方法 专利 申请日期: 2010-01-01, 作者:  张金艺[1];  翁寒一[2];  李娇[3];  蔡万林[4];  丁梦玲[5] 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/04/30 集成电路片上系统核间连线故障的测试系统和方法 专利 申请日期: 2010-01-01, 作者:  李娇[1];  张金艺[2];  杨晓冬[3];  蔡万林[4];  施慧[5] 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/04/30 片上系统中嵌入式逻辑芯核的故障测试系统 专利 申请日期: 2009-01-01, 作者:  张金艺[1];  李娇[2];  王佳[3];  翁寒一[4];  蔡万林[5] 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/04/30