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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 使用光的缺陷检查方法及其装置 专利 专利号: CN1115555C, 申请日期: 2003-07-23, 公开日期: 2003-07-23 作者:  高本健治;  西井完治;  伊藤正弥;  福井厚司;  高田和政 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2019/12/26 レーザダイオードユニットの調整装置及びその校正方法 专利 专利号: JP2002334479A, 申请日期: 2002-11-22, 公开日期: 2002-11-22 作者:  福井 厚司 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/31 レーザダイオードユニットの調整装置及び方法、光学ユニットの製造方法 专利 专利号: JP2002335033A, 申请日期: 2002-11-22, 公开日期: 2002-11-22 作者:  福井 厚司 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2019/12/31 レーザダイオードユニットの製造方法及び装置 专利 专利号: JP2002116361A, 申请日期: 2002-04-19, 公开日期: 2002-04-19 作者:  福井 厚司;  高田 和政 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2019/12/31