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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 双折射晶体厚度干涉测量技术的研究 Novel interferometry measurement technique for birefringence crystal thickness 期刊论文 2008, 卷号: 32, 页码: 521-522 作者:  唐朝伟[1];  邵艳清[1];  何国田[1,2];  张鹏[1];  张旭详[3] 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/11/29