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Is Fermi 1544-0649 a Misaligned Blazar? Discovering the Jet Structure with Very Long Baseline Interferometry
期刊论文
ASTROPHYSICAL JOURNAL, 2022, 卷号: 934, 期号: 1
作者:
Shao, Chengyu
;
Cheng, Xiaopeng
;
Thomas, Tam, Pak-Hin
;
Yang, Lili
;
Cui, Yudong
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浏览/下载:34/0
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提交时间:2022/08/08
Measurement of the cosmic ray proton and helium spectrum with energy above 100TeV by the LHAASO experiment
会议论文
Virtual, Berlin, Germany, 2021-07-12
作者:
Lingling, Ma
;
Yudong, Wang
;
Liping, Wang
;
Liqiao, Yin
;
Zhiyong, You
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2023/01/23
1/f Noise responses of Ultra-Thin Body and Buried oxide FD-SOI PMOSFETs under total ionizing dose irradiation
期刊论文
RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS, 2022, 卷号: 176, 期号: 11-12, 页码: 1202-1214
作者:
Zhang, RQ (Zhang, Ruiqin) [1] , [2] , [3]
;
Zheng, QW (Zheng, Qiwen) [1] , [2]
;
Lu, W (Lu, Wu) [1] , [2]
;
Cui, JW (Cui, Jiangwei) [1] , [2]
;
Li, YD (Li, Yudong) [1] , [2]
收藏
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2022/04/07
Total ionizing dose irradiation
UTBB FD-SOI
1
f noise
Impact of High TID Irradiation on Stability of 65 nm SRAM Cells
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2022, 卷号: 69, 期号: 5, 页码: 1044-1050
作者:
Cui, JW (Cui, Jiangwei) [1]
;
Zheng, QW (Zheng, Qiwen) [1]
;
Li, YD (Li, Yudong) [1]
;
Guo, Q (Guo, Qi) [1]
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2022/06/21
SRAM cells
Radiation effects
Arrays
Stability criteria
Circuit stability
Voltage measurement
Logic gates
Stability
static random-access memory (SRAM) cell
total ionizing dose (TID)
Total Ionizing Dose Effects of the Color Complementary Metal Oxide Semiconductor (CMOS) Image Sensor at Different Bias
期刊论文
JOURNAL OF NANOELECTRONICS AND OPTOELECTRONICS, 2022, 卷号: 17, 期号: 1, 页码: 121-127
作者:
Yang, ZK (Yang, Zhikang) [1] , [2]
;
Wen, L (Wen, Lin) [1]
;
Li, YD (Li, Yudong) [1]
;
Liu, BK (Liu, Bingkai) [1] , [2]
;
Fu, J (Fu, Jing) [1] , [2]
收藏
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浏览/下载:26/0
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提交时间:2022/06/21
Color CMOS Image Sensor
Radiation Damage
Total Ionizing Dose Effects
Bias Condition
Insight-HXMT observations of jet-like corona in a black hole X-ray binary MAXI J1820+070
期刊论文
Nature Communications, 2021, 卷号: 12, 页码: 1025
作者:
You, Bei
;
Tuo, Yuoli
;
Li, Chengzhe
;
Wang, Wei
;
Zhang, Shuang-Nan
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浏览/下载:73/0
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提交时间:2021/11/18
Impact of TID on Within-Wafer Variability of Radiation-Hardened SOI Wafers
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2021, 卷号: 68, 期号: 7, 页码: 1423-1429
作者:
Zheng, QW (Zheng, Qiwen) 1
;
Cui, JW (Cui, Jiangwei) 1
;
Yu, XF (Yu, Xuefeng) 1
;
Li, YD (Li, Yudong) 1
;
Lu, W (Lu, Wu) 1
收藏
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浏览/下载:44/0
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提交时间:2021/08/06
Radiation-hardened (RH)silicon-on-insulator (SOI)total ionizing dose (TID)within-wafer variability
Measurement and Evaluation of the Within-Wafer TID Response Variability on BOX Layer of SOI Technology
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2021, 卷号: 68, 期号: 10, 页码: 2516-2523
作者:
Zheng, QW (Zheng, Qiwen) 1Cui, JW (Cui, Jiangwei) 1Yu, XF (Yu, Xuefeng) 1
;
Li, YD (Li, Yudong) 1
;
Lu, W (Lu, Wu) 1
;
He, CF (He, Chengfa) 1
;
Guo, Q (Guo, Qi) 1
收藏
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浏览/下载:41/0
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提交时间:2021/12/06
Threshold voltage
TestingMOSFET circuits
Transistors
Standards
Logic gates
Fluctuations
Buried oxide (BOX)
silicon-on-insulator (SOI)
total ionizing dose (TID)
一种容器跨主机在线迁移方法、存储介质及终端设备
专利
申请日期: 2019-08-16, 公开日期: 2019-08-16
作者:
陈志勇
;
孟向导
;
史玉良
;
崔立真
;
鹿旭东
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2020/01/04
Insight-HXMT Observations of Swift J0243.6+6124 during Its 2017–2018 Outburst
期刊论文
The Astrophysical Journal, 2019, 卷号: 879, 期号: 1
作者:
Zhang,Yue
;
Ge,MingYu
;
Song,LiMing
;
Zhang,ShuangNan
;
Qu,JinLu
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浏览/下载:78/0
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提交时间:2020/03/10
accretion, accretion disks
pulsars: individual (Swift J0243.6+6124)
stars: distances
stars: magnetic field
X-rays: binaries
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