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光半導体装置の試験方法および光半導体装置の試験装置 专利
专利号: JP2010040639A, 申请日期: 2010-02-18, 公开日期: 2010-02-18
作者:  小野 晴義
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用以測試半導體雷射模組之裝置與方法 专利
专利号: TWI222520B, 申请日期: 2004-10-21, 公开日期: 2004-10-21
作者:  小野晴義;  馬場功
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半導体レーザ素子およびその製造方法 专利
专利号: JP2004207682A, 申请日期: 2004-07-22, 公开日期: 2004-07-22
作者:  竹見 政義;  小野 健一;  花巻 吉彦;  綿谷 力;  八木 哲哉
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光モジュール試験装置及び光モジュール特性の測定方法 专利
专利号: JP2003017789A, 申请日期: 2003-01-17, 公开日期: 2003-01-17
作者:  小野 晴義;  馬場 功
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光パワー測定方法及び装置 专利
专利号: JP2002048642A, 申请日期: 2002-02-15, 公开日期: 2002-02-15
作者:  小野 晴義;  椎葉 一美;  馬場 功
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