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| 光半導体装置の試験方法および光半導体装置の試験装置 专利 专利号: JP2010040639A, 申请日期: 2010-02-18, 公开日期: 2010-02-18 作者: 小野 晴義
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| 用以測試半導體雷射模組之裝置與方法 专利 专利号: TWI222520B, 申请日期: 2004-10-21, 公开日期: 2004-10-21 作者: 小野晴義; 馬場功
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| 半導体レーザ素子およびその製造方法 专利 专利号: JP2004207682A, 申请日期: 2004-07-22, 公开日期: 2004-07-22 作者: 竹見 政義; 小野 健一; 花巻 吉彦; 綿谷 力; 八木 哲哉
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| 光モジュール試験装置及び光モジュール特性の測定方法 专利 专利号: JP2003017789A, 申请日期: 2003-01-17, 公开日期: 2003-01-17 作者: 小野 晴義; 馬場 功
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| 光パワー測定方法及び装置 专利 专利号: JP2002048642A, 申请日期: 2002-02-15, 公开日期: 2002-02-15 作者: 小野 晴義; 椎葉 一美; 馬場 功
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