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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 28 nm超大规模FPGA的BRAM单粒子效应测试方法研究 期刊论文 《电子产品可靠性与环境试验》, 2017, 卷号: 35, 页码: 1-5 作者:  刘宇翔[1,2,3] 张战刚[1,2] 杨凯歌[1,2];  雷志锋[1,2] 黄云[1,2];  恩云飞[1,2] 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/04/24 现场可编程门阵列  单粒子效应 块随机读取存储器  敏感位定位  测试方法