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一种可高效调试的U型腔激光器 专利
专利号: CN207165907U, 申请日期: 2018-03-30, 公开日期: 2018-03-30
作者:  王延成;  周军;  于广礼;  任树青;  吴佳滨
收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2019/12/24
内蒙古自治区大豆品种生育期分组及种植区划 期刊论文
中国农业科学, 2016, 卷号: 49, 期号: 2, 页码: 260-271
作者:  胡兴国;  宋雯雯;  魏云山;  孙宾成;  李强
收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2017/10/22
内蒙古自治区大豆品种生育期分组及种植区划 期刊论文
中国农业科学, 2016, 卷号: 49, 期号: 2, 页码: 260-271
作者:  胡兴国;  宋雯雯;  魏云山;  孙宾成;  李强
收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2016/11/24
Combined Frequency- and Time-Domain Photocarrier Radiometry Characterization for Annealing Temperature Dependence of Arsenic Ion-Implanted Silicon Wafers 期刊论文
INTERNATIONAL JOURNAL OF THERMOPHYSICS, 2015, 卷号: 36, 期号: 5-6, 页码: 1045-1050
作者:  Ren, Shengdong;  Li, Bincheng;  Wang, Qian
收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2015/09/21
Photocarrier Radiometry Characterization of Ultra-shallow Junctions (USJ) in Silicon with Excimer Laser Irradiation 期刊论文
INTERNATIONAL JOURNAL OF THERMOPHYSICS, 2015, 卷号: 36, 期号: 5-6, 页码: 1173-1180
作者:  Wang, Qian;  Li, Bincheng;  Ren, Shengdong;  Wang, Qiang
收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2015/09/21
Combined Frequency- and Time-Domain Photocarrier Radiometry Characterization for Annealing Temperature Dependence of Arsenic Ion-Implanted Silicon Wafers 期刊论文
International Journal of Thermophysics, 2015, 卷号: 36, 期号: 5-6, 页码: 1045-1050
作者:  Ren, Shengdong;  Li, Bincheng;  Wang, Qian
收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2016/11/21
Photocarrier Radiometry Characterization of Ultra-shallow Junctions (USJ) in Silicon with Excimer Laser Irradiation 期刊论文
International Journal of Thermophysics, 2015, 卷号: 36, 期号: 5-6, 页码: 1173-1180
作者:  Wang, Qian;  Li, Bincheng;  Ren, Shengdong;  Wang, Qiang
收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2016/11/21
藏药莪达夏醇提物对大鼠心肌缺血-再灌注损伤的保护作用 期刊论文
2014, 卷号: 26, 期号: 3, 页码: 423
作者:  李振[1];  刘明成[2];  李福安[1];  任世存[1];  马建滨[3]
收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/12/30
Three-dimensional transient model for time-domain free-carrier absorption measurement of excess carriers in silicon wafers 期刊论文
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2013, 卷号: 114, 期号: 24
作者:  Ren, Shengdong;  Li, Bincheng;  Huang, Qiuping
收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2015/04/17
Characterization of Silicon Wafers with Combined Photocarrier Radiometry and Free Carrier Absorption 期刊论文
INTERNATIONAL JOURNAL OF THERMOPHYSICS, 2013, 卷号: 34, 期号: 8-9, 页码: 1735-1745
作者:  Li, Bincheng;  Huang, Qiuping;  Ren, Shengdong
收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2015/04/17

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