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科研机构
北京大学 [3]
内容类型
期刊论文 [3]
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2017 [3]
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Reliability evaluation of high-performance, low-power FinFET standard cells based on mixed RBB/FBB technique
期刊论文
Journal of Semiconductors, 2017
Wang Tian
;
Cui Xiaoxin
;
Ni Yewen
;
Liao Kai
;
Liao Nan
;
Yu Dunshan
;
Cui Xiaole
收藏
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提交时间:2017/12/03
reliability
FinFET
standard cell
low power
VLSI
Reliability evaluation of high-performance,low-power FinFET standard cells based on mixed RBB/FBB technique
期刊论文
Journal of Semiconductors, 2017
Tian Wang
;
Xiaoxin Cui
;
Yewen Ni
;
Kai Liao
;
Nan Liao
;
Dunshan Yu
;
Xiaole Cui
收藏
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提交时间:2017/12/03
reliability
FinFET
standard cell
low power
VLSI
Reliability evaluation of high-performance, low-power FinFET standard cells based on mixed RBB/FBB technique
期刊论文
半导体学报(英文版), 2017
Tian Wang
;
Xiaoxin Cui
;
Yewen Ni
;
Kai Liao
;
Nan Liao
;
Dunshan Yu
;
Xiaole Cui
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浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2017/12/03
reliability FinFET standard cell low power VLSI
reliability
FinFET
standard cell
low power
VLSI
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