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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 A New Model for Two-Dimensional Electrical-Field-Dependent V-th Instability of pMOSFETs With Ultrathin DPN Gate Dielectrics 期刊论文 ieee electron device letters, 2011 Yang, Jiaqi; Yang, Jingfeng; Liu, X. Y.; Han, R. Q.; Kang, J. F.; Gan, Z. H.; Liao, C. C.; Wu, H. M. 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2015/11/10 Activation energy  hot-hole-related negative-bias temperature instability (HH-NBTI)  Si-H bond dissociation  2-D electrical field  BIAS TEMPERATURE INSTABILITY  INTERFACE-TRAP GENERATION  NBTI DEGRADATION  MECHANISM