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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 An adaptive cubature formula for efficient reliability assessment of nonlinear structural dynamic systems 期刊论文 Mechanical Systems and Signal Processing, 2018, 卷号: Vol.104, 页码: 449-464 作者:  Xu, J;  Kong, F 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/26 Extreme value distribution  Maximum entropy method  Fractional moments  Adaptive cubature formula  Radius of hyper-sphere   An adaptive cubature formula for efficient reliability assessment of nonlinear structural dynamic systems. 期刊论文 Mechanical Systems & Signal Processing, 2018, 卷号: Vol.104, 页码: 449-464 作者:  Xu, Jun;  Kong, Fan 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2019/12/26 Adaptive cubature formula  Extreme value distribution  Fractional moments  Maximum entropy method  Radius of hyper-sphere   An adaptive cubature formula for efficient reliability assessment of nonlinear structural dynamic systems 期刊论文 Mechanical Systems and Signal Processing, 2018, 卷号: Vol.104, 页码: 449-464 作者:  Xu, J.;  Kong, F. 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/12/26 Adaptive  cubature  formula  Extreme  value  distribution  Fractional  moments  Maximum  entropy  method  Radius  of  hyper-sphere   Structural stability of C-60 films under the bombardment of 1.95 GeV Kr ions 期刊论文 CHINESE SCIENCE BULLETIN, 2010, 卷号: 55, 期号: 31, 页码: 3533-3537 作者:  Ma YiZhun;  Yao CunFeng;  Fu YunChong;  Jin YunFan;  Wang ZhiGuang 收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2011/05/16 1.95 GeV Kr ions  C-60 films  structural stability  efficient damage radius  thermal spike model   Structural stability of C-60 films under the bombardment of 1.95 GeV Kr ions 期刊论文 CHINESE SCIENCE BULLETIN, 2010, 卷号: 55, 期号: 31, 页码: 3533-3537 C.F. Yao; Y.C. Fu; Y.F. Jin; Z.G. Wang; H. Zang; K.F. Wei; J. Gou; Y.Z. Ma; T.L. Shen 收藏  |  浏览/下载：72/2  |  提交时间：2011/05/06 1.95 GeV Kr ions  C60 films  structural stability  efficient damage radius  thermal spike model   大口径光学元件检测技术研究 学位论文 硕士: 中国科学院上海光学精密机械研究所, 2005 作者:  闫岩 收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2016/11/28 大口径光学元件  损伤检测  像质检测  哈特曼检验法