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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Investigation into sand mura effects of a-IGZO TFT LCDs 期刊论文 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2016 Liu, Xiang; Hu, Hehe; Ning, Ce; Shang, Guangliang; Yang, Wei; Wang, Ke; Lu, Xinhong; Lee, Woobong; Wang, Gang; Xue, Jianshe; Jun, Jung Mok; Zhang, Shengdong 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2017/12/03 a-IGZO TFTs  LCD reliability test  Sand mura  Threshold voltage shift  Positive  Thermal gate bias stress  THIN-FILM TRANSISTORS   NBTI degradation in STI-based LDMOSFETs 其他 2014-01-01 He, Yandong; Zhang, Ganggang; Zhang, Xing 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2015/11/10 NBTI degradation  STI-based LDMOSFETs  HCI  MR-DCIV  TRANSISTORS   Scalability and reliability characteristics of CVD HfO2 gate dielectrics with HfN electrodes for advanced CMOS applications 期刊论文 journal of the electrochemical society, 2007 Kang, J. F.; Yu, H. Y.; Ren, C.; Sa, N.; Yang, H.; Li, M.F.; Chan, D. S. H.; Liu, X. Y.; Han, R. Q.; Kwong, D.L. 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 BIAS TEMPERATURE INSTABILITY  OXIDE  METAL  TRANSISTORS  GENERATION  STACK  MODEL  SIO2