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Simulation study on single-event burnout in field-plated Ga2O3 MOSFETs
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2023, 卷号: 149
作者:
Yu, Cheng-hao
;
Guo, Hao-min
;
Liu, Yan
;
Wu, Xiao-dong
;
Zhang, Li-long
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2023/11/10
Depletion-mode
Single-event burnout (SEB)
Single-event gate rupture
Design of DC Magnet Power Supply System for ITER Static Magnetic Field Test Facility
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON PLASMA SCIENCE, 2022
作者:
Deng, Xi
;
Jiang, Li
;
Huang, Ya
;
Gao, Ge
收藏
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2022/12/23
Inductors
Topology
Switches
Power supplies
Switching frequency
Harmonic analysis
Buck converters
Interleaving parallel buck converter
International Thermonuclear Experimental Reactor (ITER)
large output capability
multilevel
static magnetic field (SMF) test facility
1/f Noise responses of Ultra-Thin Body and Buried oxide FD-SOI PMOSFETs under total ionizing dose irradiation
期刊论文
RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS, 2022, 卷号: 176, 期号: 11-12, 页码: 1202-1214
作者:
Zhang, RQ (Zhang, Ruiqin) [1] , [2] , [3]
;
Zheng, QW (Zheng, Qiwen) [1] , [2]
;
Lu, W (Lu, Wu) [1] , [2]
;
Cui, JW (Cui, Jiangwei) [1] , [2]
;
Li, YD (Li, Yudong) [1] , [2]
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2022/04/07
Total ionizing dose irradiation
UTBB FD-SOI
1
f noise
Review Van der Waals organic/inorganic heterostructures in the two-dimensional limit
期刊论文
CHEM, 2021, 卷号: 7, 期号: 11, 页码: 2989-3026
作者:
Xu, Xiaomin
;
Lou, Ziru
;
Cheng, Simin
;
Chow, Philip C. Y.
;
Koch, Norbert
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2022/01/27
Ambipolar transport in Ni-catalyzed InGaAs nanowire field-effect transistors for near-infrared photodetection
期刊论文
Nanotechnology, 2021, 卷号: 32, 期号: 14
作者:
Guo,Yanan
;
Liu,Dong
;
Miao,Chengcheng
;
Sun,Jiamin
;
Pang,Zhiyong
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浏览/下载:32/0
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提交时间:2021/03/29
Ambipolar Transport
Field-effect Transistors
Ingaas Nanowires
Cmos-compatible Catalyst
Surface State
Near-infrared Photodetection
Impact of TID on Within-Wafer Variability of Radiation-Hardened SOI Wafers
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2021, 卷号: 68, 期号: 7, 页码: 1423-1429
作者:
Zheng, QW (Zheng, Qiwen) 1
;
Cui, JW (Cui, Jiangwei) 1
;
Yu, XF (Yu, Xuefeng) 1
;
Li, YD (Li, Yudong) 1
;
Lu, W (Lu, Wu) 1
收藏
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浏览/下载:40/0
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提交时间:2021/08/06
Radiation-hardened (RH)silicon-on-insulator (SOI)total ionizing dose (TID)within-wafer variability
Measurement and Evaluation of the Within-Wafer TID Response Variability on BOX Layer of SOI Technology
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2021, 卷号: 68, 期号: 10, 页码: 2516-2523
作者:
Zheng, QW (Zheng, Qiwen) 1Cui, JW (Cui, Jiangwei) 1Yu, XF (Yu, Xuefeng) 1
;
Li, YD (Li, Yudong) 1
;
Lu, W (Lu, Wu) 1
;
He, CF (He, Chengfa) 1
;
Guo, Q (Guo, Qi) 1
收藏
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浏览/下载:40/0
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提交时间:2021/12/06
Threshold voltage
TestingMOSFET circuits
Transistors
Standards
Logic gates
Fluctuations
Buried oxide (BOX)
silicon-on-insulator (SOI)
total ionizing dose (TID)
Mechanisms, influencing factors, and applications of electrohydrodynamic jet printing
期刊论文
Nanotechnology Reviews, 2021, 卷号: 10, 期号: 1, 页码: 1046-1078
作者:
Cai SX(蔡树向)
;
Sun, Yalin
;
Wang, Zhen
;
Yang WG(杨文广)
;
Li, Xiangyu
收藏
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浏览/下载:24/0
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提交时间:2021/10/03
electrohydrodynamic jet printing
droplet generation process
electronic devices
bioprinting
A Charge Density Model of Silicon-nanowire GAA MOSFET Incoroperating the Source-drian Tunneling Effect for IC Design
会议论文
Guilin, China, June 4-6, 2021
作者:
Cheng H(程贺)
;
Zhang C(张超)
;
Liu TF(刘铁锋)
;
Xie C(谢闯)
;
Yang ZJ(杨志家)
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2022/02/04
ballistic transport
compact model
integrated-cricuit design
sub-7 nm GAA MOSFET
the source-drain tunneling
Field-Free 3T2SOT MRAM for Non-Volatile Cache Memories
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, 2020, 卷号: 67, 期号: 12, 页码: 4660-4669
作者:
Wu, Bi
;
Wang, Chao
;
Wang, Zhaohao
;
Wang, Ying
;
Zhang, Deming
收藏
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浏览/下载:42/0
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提交时间:2021/12/01
Random access memory
Magnetic tunneling
Switches
Reliability
Tunneling magnetoresistance
Metals
Transistors
SOT-MRAM
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