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微电子研究所 [8]
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上海微系统与信息技术... [1]
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期刊论文 [8]
专利 [3]
会议论文 [1]
发表日期
2022 [1]
2015 [1]
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三维数值仿真研究锗硅异质结双极晶体管总剂量效应
期刊论文
物理学报, 2022, 卷号: 71, 期号: 5, 页码: 314-324
作者:
张晋新1
;
王信2
;
郭红霞2,3
;
冯娟1
;
吕玲1
收藏
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浏览/下载:46/0
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提交时间:2022/03/17
锗硅异质结双极晶体管
总剂量效应
三维数值模拟
0.5μm工艺CMOS有源像素传感器的总剂量辐射效应
期刊论文
发光学报, 2015, 卷号: 36, 期号: 2, 页码: 242-248
作者:
汪波
;
李豫东
;
郭旗
;
刘昌举
;
文林
收藏
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2015/03/25
电离总剂量辐射效应
CMOS有源像素传感器
饱和输出信号
像素单元结构
LOCOS隔离
γ射线辐照CMOS有源像素传感器的总剂量辐射效应研究
会议论文
中国甘肃兰州, 2014-08-13
作者:
汪波
;
李豫东
;
郭旗
;
刘昌举
;
任迪远
收藏
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2018/06/04
Cmos Aps
暗信号
像素单元结构
电离总剂量
Locos隔离
PMOS器件叠层结构的制备和栅功函数调节方法
专利
专利号: ZL201110046360.1, 申请日期: 2011-02-25, 公开日期: 2015-05-29
作者:
徐秋霞
;
李永亮
收藏
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浏览/下载:8/0
  |  
提交时间:2015/05/29
高压LDMOS晶体管准饱和效应分析与建模
期刊论文
物理学报, 2010, 期号: 01
王磊
;
杨华岳
收藏
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浏览/下载:89/0
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提交时间:2012/01/06
绝缘体上的硅锗
注氧隔离
埋氧
氧化
采用LOCOS隔离的部分耗尽SOI 器件的窄沟道效应
期刊论文
电 子 器 件, 2007, 卷号: 30, 期号: 5, 页码: 4,1535_1538
作者:
郭天雷
;
宋文斌
;
许高博
;
韩郑生
收藏
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2010/05/26
部分耗 Soi
鸟嘴效应
边缘电场效应
反向窄沟道效应
杂质重新分布
亚微米双层多晶硅自对准双极晶体管性能研究
期刊论文
电子与封装, 2005, 卷号: 5, 期号: 9, 页码: 5,29-33
作者:
张志勇
;
海潮和
收藏
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2010/05/26
亚微米工艺
自对准技术
双层多晶硅
双极晶体管
原位掺杂
一种新型抗辐照SOI隔离结构
期刊论文
半导体学报, 2005, 卷号: 26, 期号: 7, 页码: 4,1291-1294
作者:
司红
;
赵洪辰
;
海潮和
;
韩郑生
;
钱鹤
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2010/05/26
隔离结构
抗辐照
Soi
薄sio2
多晶硅
Sio2多层膜
隔离技术对SOI PMOSFET中空穴迁移率的影响
期刊论文
半导体学报, 2004, 卷号: 25, 期号: 10, 页码: 1345-1348
作者:
韩郑生
;
赵洪辰
;
海潮和
;
钱鹤
收藏
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2010/05/26
Locos
Mesa
迁移率
应力
部分耗尽CMOS/SOI工艺
期刊论文
半导体学报, 2001, 卷号: 22, 期号: 6, 页码: 5,806-810
作者:
刘新宇
;
刘忠立
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2010/05/25
Pbl
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