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Design of off-axis multi-reflective optical system based on particle swarm optimization
期刊论文
Chinese Optics, 2021, 卷号: 14, 期号: 6, 页码: 1435-1450
作者:
Y. Wu
;
L.-P. Wang
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2022/06/13
Design method for off-axis aspheric reflective optical system with extremely low aberration and large field of view
期刊论文
Applied Optics, 2020, 卷号: 59, 期号: 32, 页码: 10185-10193
作者:
Y. Wu,L. P. Wang,J. Yu,B. Yu and C. S. Jin
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2021/07/06
Plasmonic Interference Lithography for Low-Cost Fabrication of Dense Lines with Sub-50 nm Half-Pitch
期刊论文
ACS Applied Nano Materials, 2019, 卷号: 2, 期号: 1, 页码: 489-496
作者:
Kong, Weijie
;
Luo, Yunfei
;
Zhao, Chengwei
;
Liu, Ling
;
Gao, Ping
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2021/05/06
interference lithography
surface plasmonic
optical waveguide
near-field
diffraction limit
super resolution
nanomanufacturing
subwavelength optics
Challenges Towards Industrialization of the ERL-FEL Light Source for EUV Lithography
会议论文
Australia, 2019
作者:
N. Nakamura
;
E. Kako
;
R. Kato
;
H. Kawata
;
T. Miyajima
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2019/08/06
全固态高压脉冲电源在半导体光刻光源中的应用
期刊论文
强激光与粒子束, 2019, 卷号: 031
作者:
游利兵
;
程超
;
方晓东
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2020/11/23
全固态高压脉冲电源
半导体光刻
准分子激光
磁开关
闸流管
Quality evaluation of solar magnetic field images at EUV wavelengths in digital image correlation method
期刊论文
Journal of Computational Methods in Sciences and Engineering, 2019, 卷号: 19, 期号: 4, 页码: 1109-1123
作者:
Y.Liu
;
K.-F.Song
;
J.-L.Ma
;
X.-D.Wang
;
Z.-W.Han
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浏览/下载:0/0
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提交时间:2020/08/24
Image quality,Displacement measurement,Extreme ultraviolet lithography,Image analysis,Magnetic fields,Quality control,Strain measurement
Modeling multilayer coating profiles with defects on EUV collector with grating
期刊论文
Optical Engineering, 2019, 卷号: 58, 期号: 10, 页码: 9
作者:
S.Z.Sun
;
C.S.Jin
;
B.Yu
;
T.Guo
;
S.Yao
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2020/08/24
EUV collector with grating,multilayer coating profile,coating defects,deposition model,EUV reflectance,lithography,Optics
Theoretical determination of energies, wavelengths, and transition probabilities for EUV and SXR spectral lines in Rb XXXIV, Sr XXXV, Zr XXXVII, and Nb XXXVIII
期刊论文
Journal of Quantitative Spectroscopy & Radiative Transfer, 2019, 卷号: 225, 期号: 225, 页码: 76-83
作者:
Sang CC(桑萃萃)
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2020/11/13
Atomic spectroscopy
Extreme ultraviolet lithography
Perturbation techniques
Electric quadrupoles
Level energies
Line identifications
Magnetic quadrupoles
National Institute of Standards and Technology
Relativistic many-body perturbation theories
Transition probabilities
Transition rates
Molecular Glass Photoresists with High Resolution, Low LER, and High Sensitivity for EUV Lithography
期刊论文
MACROMOLECULAR MATERIALS AND ENGINEERING, 2018, 卷号: 303, 期号: 6
作者:
Peng, Xiaoman
;
Wang, Yafei
;
Xu, Jian
;
Yuan, Hua
;
Wang, Liangqian
收藏
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浏览/下载:35/0
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提交时间:2019/04/09
Euv
Lithography
Molecular Glasses
Photoresists
Large area deep subwavelength interference lithography with a 35 nm half-period based on bulk plasmon polaritons
期刊论文
OPTICAL MATERIALS EXPRESS, 2018, 卷号: 8, 期号: 2, 页码: 199-209
作者:
Liu, Hongchao
;
Luo, Yunfei
;
Kong, Weijie
;
Liu, Kaipeng
;
Du, Wenjuan
收藏
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浏览/下载:45/0
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提交时间:2019/08/23
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