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科研机构
上海应用物理研究所 [1]
半导体研究所 [1]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2016 [1]
2001 [1]
学科主题
半导体材料 [1]
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Facile usage of a MYTHEN 1K with a Huber 5021 diffractometer and angular calibration in operando experiments
期刊论文
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY, 2016, 卷号: 49, 页码: 1182-1189
作者:
Gao, M
;
Gu, YL
;
Li, L
;
Gong, ZL
;
Gao, XY
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提交时间:2017/03/02
MYTHEN 1K
X-ray powder diffraction
synchrotron radiation
Debye-Scherrer geometry
X-Ray diffraction determination of the fractions of hexagonal and twinned phases in cubic GaN layers grown on (001)GaAs substrate
期刊论文
thin solid films, 2001, 卷号: 392, 期号: 1, 页码: 29-33
Qu B
;
Zheng XH
;
Wang YT
;
Feng ZH
;
Liu SA
;
Lin SM
;
Yang H
;
Liang JW
收藏
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浏览/下载:103/13
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提交时间:2010/08/12
gallium nitride
X-ray diffraction
EPITAXY
RATIO
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