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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Investigation on Channel Hot Carrier Degradation of Ultra Deep Submicron SOI pMOSFETs 其他 2012-01-01 Huang, Liang-Xi; An, Xia; Tan, Fei; Wu, Wei-Kang; Huang, Ru 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 Investigations on Proton-Irradiation-Induced Spacer Damage in Deep-Submicron MOSFETs 其他 2008-01-01 Xue, Shoubin; Wang, Pengfei; Huang, Ru; Wu, Dake; Pei, Yunpeng; Wang, Wenhua; Zhang, Xing 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2015/11/10 THIN GATE OXIDES  HEAVY-ION IRRADIATION  INDUCED LEAKAGE CURRENT  RELIABILITY DEGRADATION  CMOS TRANSISTORS  DEPENDENCE  BREAKDOWN   Investigations on Proton-Irradiation-Induced Spacer Damage in Deep-Submicron MOSFETs 其他 2008-01-01 Shoubin Xue; Pengfei Wang; Ru Huang; Dake Wu; Yunpeng Pei; Wenhua Wang; Xing Zhang 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2017/12/03 drain  irradiation  capture  defects  saturation  lager  proton  hardness  degraded  isolation  drain  irradiation  capture  defects  saturation  lager  proton  hardness  degraded  isolation   Evaluation of negative bias temperature instability in ultra-thin gate oxide pMOSFETs using a new on-line PDO method 期刊论文 中国物理英文版, 2006 Ji Zhi-Gang; Xu Ming-Zhen; Tan Chang-Hua 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/16 negative bias temperature instability  proportional differential operator  degradation  INTERFACE STATE GENERATION  DEEP-SUBMICRON PMOSFETS  HIGH ELECTRIC-FIELDS  NBTI DEGRADATION  MOS DEVICES  MOSFETS  STRESS  MECHANISM