QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Microstructural evolution and failure mechanism of 62Sn36Pb2Ag/Cu solder joint during thermal cycling 期刊论文 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2019, 卷号: 99, 页码: 12-18 作者:  Li, Qi-hai;  Li, Cai-Fu;  Zhang, Wei;  Chen, Wei-wei;  Liu, Zhi-Qua 收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2021/02/02 62Sn36Pb2Ag solder joint  Microstructural evolution  Failure analysis  Intermetallic compound (IMC)  Thermal cycling   Microstructural evolution and failure mechanism of 62Sn36Pb2Ag/Cu solder joint during thermal cycling 期刊论文 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2019, 卷号: 99, 页码: 12-18 作者:  Li, Qi-hai;  Li, Cai-Fu;  Zhang, Wei;  Chen, Wei-wei;  Liu, Zhi-Qua 收藏  |  浏览/下载：43/0  |  提交时间：2021/02/02 62Sn36Pb2Ag solder joint  Microstructural evolution  Failure analysis  Intermetallic compound (IMC)  Thermal cycling