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新一代半导体器件参数的比例差值谱系统 期刊论文
中国集成电路, 2005
纪志罡; 靳磊; 许铭真; 谭映; 王国林; 马进元
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利用直接隧穿弛豫谱技术对超薄栅MOS结构中栅缺陷的研究 期刊论文
半导体学报, 2002
霍宗亮; 杨国勇; 许铭真; 谭长华; 段小蓉
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全电流模型的比例差分特性 期刊论文
半导体学报, 2001
杨存宇; 谭长华; 许铭真
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