×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
新疆理化技术研究所 [7]
内容类型
期刊论文 [7]
发表日期
2022 [1]
2020 [1]
2018 [2]
2016 [1]
2014 [1]
2011 [1]
更多...
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共7条,第1-7条
帮助
限定条件
专题:新疆理化技术研究所
第一署名单位
第一作者单位
通讯作者单位
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
1/f Noise responses of Ultra-Thin Body and Buried oxide FD-SOI PMOSFETs under total ionizing dose irradiation
期刊论文
RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS, 2022, 卷号: 176, 期号: 11-12, 页码: 1202-1214
作者:
Zhang, RQ (Zhang, Ruiqin) [1] , [2] , [3]
;
Zheng, QW (Zheng, Qiwen) [1] , [2]
;
Lu, W (Lu, Wu) [1] , [2]
;
Cui, JW (Cui, Jiangwei) [1] , [2]
;
Li, YD (Li, Yudong) [1] , [2]
收藏
  |  
浏览/下载:21/0
  |  
提交时间:2022/04/07
Total ionizing dose irradiation
UTBB FD-SOI
1
f noise
Study of the influence of gamma irradiation on long-term reliability of SiC MOSFET
期刊论文
RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS, 2020, 卷号: 175, 期号: 5-6, 页码: 559-566
作者:
Liang, XW (Liang, Xiaowen)[ 1,2,3 ]
;
Cui, JW (Cui, Jiangwei)[ 1,2 ]
;
Zheng, QW (Zheng, Qiwen)[ 1,2 ]
;
Zhao, JH (Zhao, Jinghao)[ 1,2,3 ]
;
Yu, XF (Yu, Xuefeng)[ 1,2 ]
收藏
  |  
浏览/下载:41/0
  |  
提交时间:2020/12/11
SiC MOSFET
total ionizing dose irradiation
time-dependent dielectric breakdown
Estimation of enhanced low dose rate sensitivity mechanisms using temperature switching irradiation on gate-controlled lateral PNP transistor
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2018, 卷号: 27, 期号: 3, 页码: 1-9
作者:
Li, XL (Li, Xiao-Long)
;
Lu, W (Lu, Wu)
;
Wang, X (Wang, Xin)
;
Yu, X (Yu, Xin)
;
Guo, Q (Guo, Qi)
收藏
  |  
浏览/下载:23/0
  |  
提交时间:2018/05/14
Ionizing Radiation Damage
Enhanced Low Dose Rate Sensitivity (Eldrs)
Switched Temperature Irradiation
Gate-controlled Lateral Pnp Transistor (glPnp)
Investigating the TDDB lifetime growth mechanism caused by proton irradiation in partially depleted SOI devices
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2018, 卷号: 81, 期号: 2, 页码: 112-116
作者:
Ma, T (Ma, Teng)
;
Yu, XF (Yu, Xuefeng)
;
Cui, JW (Cui, Jiangwei)
;
Zheng, QW (Zheng, Qiwen)
;
Zhou, H (Zhou, Hang)
收藏
  |  
浏览/下载:57/0
  |  
提交时间:2018/03/14
Reliability
Proton Irradiation
Radiation Induced Leakage Current (Rilc)
Time-dependent Dielectric Breakdown (Tddb)
Total Ionizing Does (Tid)
Impact of Bias Conditions on Total Ionizing Dose Effects of Co-60 gamma in SiGe HBT
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2016, 卷号: 63, 期号: 2, 页码: 1251-1258
作者:
Zhang, JX (Zhang, Jinxin)
;
Guo, Q (Guo, Qi)
;
Guo, HX (Guo, Hongxia)
;
Lu, W (Lu, Wu)
;
He, CH (He, Chaohui)
收藏
  |  
浏览/下载:30/0
  |  
提交时间:2016/12/12
Bias conditions
Co-60 gamma irradiation
SiGe HBT
total ionizing dose effect
栅控横向PNP双极晶体管基极电流峰值展宽效应及电荷分离研究
期刊论文
物理学报, 2014, 卷号: 63, 期号: 11, 页码: 226-231
作者:
马武英
;
王志宽
;
陆妩
;
席善斌
;
郭旗
收藏
  |  
浏览/下载:88/0
  |  
提交时间:2014/11/11
栅控双极PNP晶体管
60 Coγ辐照
辐射损伤
GCLPNP BJTs
60Coγ irradiation
ionizing damage
不同偏置下电流反馈运算放大器的电离辐射效应
期刊论文
原子能科学技术, 2011, 卷号: 45, 期号: 4, 页码: 461-466
作者:
王义元
;
陆妩
;
任迪远
;
郑玉展
;
高博
收藏
  |  
浏览/下载:15/0
  |  
提交时间:2012/11/29
Degradation
Dosimetry
Feedback amplifiers
Ionizing radiation
Irradiation
Radiation shielding
Radioactivity
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace