×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
上海光学精密机械研究... [2]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2005 [2]
学科主题
光学薄膜 [2]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共2条,第1-2条
帮助
限定条件
学科主题:光学薄膜
内容类型:期刊论文
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
氧分压对电子束蒸发SiO2薄膜机械性质和光学性质的影响
期刊论文
光子学报, 2005, 卷号: 34, 期号: 5, 页码: 742, 745
邵淑英
;
范正修
;
邵建达
;
沈卫星
;
江敏华
收藏
  |  
浏览/下载:725/112
  |  
提交时间:2009/09/22
SiO2薄膜
SiO_2 films
氧分压
Oxygen partial pressure
残余应力
Residual stress
表面形貌
Surface morphology
折射率
Refractive index
电子束蒸发
Electron beam evaporation
Stress analysis of ZrO2/SiO2 multilayers deposited on different substrates with different thickness periods
期刊论文
opt. lett., 2005, 卷号: 30, 期号: 16, 页码: 2119, 2121
邵淑英
;
邵建达
;
贺洪波
;
范正修
收藏
  |  
浏览/下载:506/75
  |  
提交时间:2009/09/22
INTERFACE STRESS
SURFACE STRESS
THIN-FILMS
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace