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期刊论文 [6]
发表日期
2017 [6]
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发表日期:2017
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Effects of Channel Layer Thickness on Characteristics of Flexible Nickel-Doped Zinc Oxide Thin-Film Transistors
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2017
Han, Dedong
;
Huang, Lingling
;
Yu, Wen
;
Cong, Yingying
;
Dong, Junchen
;
Zhang, Xing
;
Wang, Yi
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Channel layer thickness
flexible
nickel-doped zinc oxide (NZO)
thin-film transistor (TFT)
AZO Thin Film Transistor Performance Enhancement by Capping an Aluminum Layer
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2017
Yu, Wen
;
Han, Dedong
;
Dong, Junchen
;
Cong, Yingying
;
Cui, Guodong
;
Wang, Yi
;
Zhang, Shengdong
收藏
  |  
浏览/下载:7/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Aluminum-zinc-oxide
capping layer (CL)
coplanar
crystallization
thin film transistor (TFT)
FIELD-EFFECT MOBILITY
ZINC-OXIDE
VOLTAGE
TFTS
High-Performance Ti-Doped Zinc Oxide TFTs With Double-Layer Gate Dielectric Fabricated at Low Temperature
期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2017
Cui, Guodong
;
Han, Dedong
;
Cong, Yingying
;
Dong, Junchen
;
Yu, Wen
;
Zhang, Shengdong
;
Zhang, Xing
;
Wang, Yi
收藏
  |  
浏览/下载:7/0
  |  
提交时间:2017/12/03
High performance
Ti-Zn-O (TiZO)
thin film transistor (TFT)
double-layer gate dielectric
THIN-FILM TRANSISTORS
Solution-Processed Organic Thin-Film Transistor Arrays with the Assistance of Laser Ablation
期刊论文
ACS APPLIED MATERIALS & INTERFACES, 2017, 卷号: 9, 页码: 3849-3856
作者:
Yang, Huihuang
;
Chen, Cihai
;
Zhang, Guocheng
;
Lan, Shuqiong
;
Chen, Huipeng
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2019/11/21
solution processed
TFT arrays
laser ablation
organic thin-film transistor
display and circuits
Analytical Drain Current Model for Amorphous InGaZnO Thin-Film Transistors at Different Temperatures Considering Both Deep and Tail Trap States
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2017, 卷号: 64, 期号: 9, 页码: 3654-3660
作者:
He, Hongyu*
;
Liu, Yuan
;
Yan, Binghui
;
Lin, Xinnan
;
Zheng, Xueren
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2019/12/27
Analytical model
drain current
temperature characteristics
thin-film transistor (TFT)
trap states
Analytical Drain Current Model for Amorphous InGaZnO Thin-Film Transistors at Different Temperatures Considering Both Deep and Tail Trap States
期刊论文
IEEE Transactions on Electron Devices, 2017, 卷号: 64, 期号: 9, 页码: 3654-3660
作者:
He, Hongyu*
;
Liu, Yuan
;
Yan, Binghui
;
Lin, Xinnan
;
Zheng, Xueren
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/27
Analytical model
drain current
temperature characteristics
thin-film transistor (TFT)
trap states
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