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科研机构
北京航空航天大学 [2]
内容类型
会议论文 [2]
发表日期
2015 [2]
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发表日期:2015
专题:北京航空航天大学
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Configuration Circuit Design for Bum-in Test of CLB Based on Structure
会议论文
2015 PROGNOSTICS AND SYSTEM HEALTH MANAGEMENT CONFERENCE (PHM), 2015-01-01
作者:
Gao, Cheng
;
Liu, Haitian
;
Wang, Xiangfen
;
Huang, Jiaoying
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提交时间:2020/01/06
Reliability
Burn-in
CLB
Configuration Circuit
FPGA
Failure Analysis of Plastic Encapsulated Microcircuits During Burn-in of Screening Test
会议论文
PROCEEDINGS OF THE 2015 FIRST INTERNATIONAL CONFERENCE ON RELIABILITY SYSTEMS ENGINEERING 2015 ICRSE, 2015-01-01
作者:
Jia, Meisi
;
Zhang, Sujuan
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2020/01/06
burn-in
screening
delamination
failure analysis
plastic encapsulated microcircuits (PEMs)
design for packaging reliability
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