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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2014    内容类型：期刊论文     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Instability of indium zinc oxide thin-film transistors under transmission line pulsed stress (EI收录) 期刊论文 IEEE Electron Device Letters, 2014, 卷号: 35, 页码: 1254-1256 作者:  Liu, Yuan[1];  Wu, Wei-Jing[2];  Lei, Zhi-Feng[1];  Wang, Lei[2];  Shi, Qian[1] 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/04/25 Electric grounding  Electric lines  Electrostatic devices  Electrostatic discharge  Indium  MOS devices  Semiconducting organic compounds  Single crystals  Spurious signal noise  Thin films  Threshold voltage  Transmission line theory  Zinc  Zinc oxide