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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 专题：上海技术物理研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 双光路切换互参考高精度AOTF性能测试方法及装置 专利 专利号: 201510028960.3, 申请日期: 2015-01-21, 公开日期: 2017-09-26 作者:  1 何志平 2 秦侠格 3 舒 嵘 4 王建宇 5 杨秋杰 6 吴 钰7 白蕊霞 8 刘经纬 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2017/12/12 盖革模式APD被动淬火与恢复集成电路的设计方法 专利 专利号: 201010101857.4, 申请日期: 2011-01-01, 公开日期: 2011-12-15 作者:  1 周扬 2 陈永平 3 陈世军 4 刘强 5白宗杰6 邓若汉 7 严奕 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2011/12/15