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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 专题：华南理工大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 老化实验条件下的IGBT寿命预测模型 (EI收录) 期刊论文 《电工技术学报》, 2016, 卷号: 31, 页码: 173-180 作者:  赖伟[1];  陈民铀[1];  冉立[1];  王学梅[2];  徐盛友[1] 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/04/24 寿命模型  功率循环  WEIBULL分布 Arrhenius广延指数模型  IGBT   老化试验条件下的IGBT失效机理分析 (EI收录) 期刊论文 《中国电机工程学报》, 2015, 卷号: 35, 页码: 5293-5300 作者:  赖伟[1];  陈民铀[1];  冉立[1];  王学梅[2];  徐盛友[1] 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/04/08 IGBT老化  失效机理  功率循环  结温计算  热阻监测