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新疆理化技术研究所 [2]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2019 [2]
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8T-全局曝光CMOS图像传感器单粒子翻转及损伤机理
期刊论文
光学学报, 2019, 卷号: 39, 期号: 5, 页码: 41-49
作者:
汪波
;
王立恒
;
刘伟鑫
;
孔泽斌
;
李豫东
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提交时间:2019/07/01
探测器
互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器
重离子辐照
单粒子翻转
损伤机理
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