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半导体器件老炼筛选试验设计 Design of Burn-in Screening Test for Semiconductors Devices 期刊论文
2014, 卷号: 44, 页码: 392-394
作者:  罗俊[1,2];  陈世钗[3];  胡盛东[1,4];  刘凡[1];  赵胜雷[2]
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科学研究分类的实施 期刊论文
1991, 页码: 15-19
作者:  姚昌瑞[1];  任廷枢[2];  陈开俊[3];  李代玺[4];  尹良明[5]
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