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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 专题：北京大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Pulse stress frequency dependence of negative bias temperature instability in SiON gate transistors 期刊论文 应用物理学快报, 2009 Yang, Jingfeng; Yang, Jiaqi; Yan, Baoguang; Du, Gang; Liu, Xiaoyan; Han, Ruqi; Kang, Jinfeng; Liao, C. C.; Gan, Z. H.; Liao, M.; Wang, J. P.; Wong, W. 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/10 deep levels  dielectric materials  electron traps  insulated gate field effect transistors  interface states  reliability  silicon compounds  NBTI  GENERATION  IMPACT   Anomalous negative bias temperature instability degradation induced by source/drain bias in nanoscale PMOS devices 期刊论文 ieee 纳米技术汇刊, 2008 Yan, Baoguang; Yang, Jingfeng; Xia, Zhiliang; Liu, Xiaoyan; Du, Gang; Han, Ruqi; Kang, Jinfeng; Liao, C. C.; Gan, Zhenghao; Liao, Miao; Wang, J. P.; Wong, Waisum 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/10 energetic hole  interfacial dissociation of Si-H bonds  negative bias temperature instability (NBTI)  source/drain (S/D) bias  TRAP GENERATION  INTERFACE  MODEL   Poststress recovery mechanism of the negative bias temperature instability based on dispersive transport 期刊论文 应用物理学快报, 2007 Yang, Jingfeng; Yan, Baoguang; Liu, Xiaoyan; Han, Ruqi; Kang, Jinfeng; Liao, C. C.; Gan, Z. H.; Liao, M.; Wang, J. P.; Wong, W. 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2015/11/10 INTERFACE  GENERATION