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北京大学 [4]
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2015 [1]
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Comprehensive Understanding of Hot Carrier Degradation in Multiple-fin SOI FinFETs
其他
2015-01-01
Jiang, Hai
;
Yin, Longxiang
;
Li, Yun
;
Xu, Nuo
;
Zhao, Kai
;
He, Yandong
;
Du, Gang
;
Liu, Xiaoyan
;
Zhang, Xing
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2017/12/03
multi-gate FET
Silicon-on-Insulator
hot carrier
interface charge
oxide charge
reliability
REGIME
Monitoring ground surface displacement in the three gorges area, dangxiong-lasha and jiangsu province area
其他
2013-01-01
Singleton, A.
;
Muller, J.-P.
;
Zeng, Q.
;
Zhang, J.
;
Li, Z.
;
Larkin, H.
;
Li, X.
;
Liu, P.
;
Kincal, C.
;
Yan, D.
;
Liang, C.
;
Cui, X.
;
Zhou, X.
;
Wang, Q.
;
Gao, S.
;
Yun, Y.
;
Xiong, S.
;
Gong, L.
;
Jiang, W.
;
Luo, Y.
;
He, X.
;
He, M.
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2015/11/17
Originator or propagator? Incorporating social role theory into topic models for twitter content analysis
其他
2013-01-01
Zhao, Wayne Xin
;
Wang, Jinpeng
;
He, Yulan
;
Nie, Jian-Yun
;
Li, Xiaoming
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/17
Numerical study on effect of random dopant fluctuation on double gate MOSFET based 6-T SRAM performance
其他
2011-01-01
Zhang, Xiufang
;
Ma, Chenyue
;
Zhao, Wei
;
Zhang, Chenfei
;
Wang, Guozeng
;
Wu, Wen
;
Wang, Wenping
;
Cao, Yu
;
Yang, Shengqi
;
Yang, Zhang
;
Ma, Yong
;
Ye, Yun
;
Li, Yongliang
;
Wang, Ruonan
;
Wang, Ruonan
;
He, Jin
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2015/11/13
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