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科研机构
北京大学 [2]
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其他 [2]
发表日期
2010 [1]
2009 [1]
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The Combined Impact of Total Ionizing Dose Effect and Negative Bias Temperature Stress on Deep Sub-Micron pMOSFETs
其他
2010-01-01
Wang, Jian
;
Wang, Wenhua
;
Huang, Detao
;
Xue, Shoubin
;
Wang, Sihao
;
Liu, Wen
;
Huang, Ru
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提交时间:2015/11/13
NBTI DEGRADATION
RADIATION
INSTABILITY
An uncooled microcantilever IR detector based on bulk silicon technique
其他
2009-01-01
Yuliang, Yi
;
Xiaomei, Yu
;
Wenhua, Xu
;
Ming, Liu
;
Liquan, Dong
;
Xiaohua, Liu
;
Andi, Zhao
;
Yuejin, Zhao
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提交时间:2015/11/10
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