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| A Novel Fault Localization Method Based on Monitoring of Sheath Current in a Cross-bonded HV Cable System 其他
2017-01-01
作者: Li, Mingzhen; Zhou, Wenjun; Wang, Chunlin; Yao, Leiming; Su, Mengting
  收藏 | 浏览/下载：3/0 | 提交时间：2019/12/05
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| A Novel Fault Localization Method Based on Monitoring of Sheath Current in a Cross-bonded HV Cable System 其他
2017-01-01
作者: Li, Mingzhen; Zhou, Wenjun; Wang, Chunlin; Yao, Leiming; Su, Mengting
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| 冬眠态心脏兴奋收缩耦联功能强化的结构与分子机制——天然的“反心衰”模型 其他
2011-01-01
黎荣昌; 韦玲; 郭运波; 吴昊迪; 许师明; 李琳琳; 柴真; 王世强
收藏 | 浏览/下载：5/0 | 提交时间：2015/10/23
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| Characteristics of As-grown hole trapping in silicon oxynitride p-MOSFETs subjected to negative bias temperature stress 其他
2008-01-01
Wang, Yangang; Zhang, J.F.; Chang, M.H.; Xu, Mingzhen; Tan, Changhua
收藏 | 浏览/下载：3/0 | 提交时间：2015/11/12 |
| The statistical analysis of substrate current to soft breakdown in ultra-thin gate oxide n-MOSFETs 其他
2004-01-01
Wang, Yangang; Shi, Kai; Jia, Gaosheng; Xu, Mingzhen; Tan, Changhua; Duan, Xiaorong
收藏 | 浏览/下载：3/0 | 提交时间：2015/11/13 |
| Proportional Difference Method for Determination of the Threshold Voltage and the Effect Inversion Carrier Mobility of an MOSFET 其他
1998-01-01
Mingzhen Xu; Changhua Tan; Yandong He; Bing Xie; Jingyan Wang; Liqi Wang
收藏 | 浏览/下载：3/0 | 提交时间：2017/12/03
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| EFFECT OF NEW GENERATED INTERFACE TRAPS ON F-N VOLTAGE RELAXATION OF THIN SiO_2 其他
1989-01-01
XU mingzhen; TAN changhua; WANG yangyuan
收藏 | 浏览/下载：1/0 | 提交时间：2017/12/03
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