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北京大学 [25]
西安交通大学 [1]
武汉大学 [1]
内容类型
其他 [27]
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2016 [4]
2015 [5]
2013 [4]
2012 [2]
2007 [2]
2006 [1]
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发表日期升序
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提交时间降序
A Novel Surveillance System Applied in Civil Airport
其他
2016-01-01
Sun, Hua Bo
;
Zhong, Min Zhu
;
Miao, Ling Yun
;
Wang, Xin
;
Zhao, Hai Meng
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2017/12/03
Reliability investigation of high-k/metal gate in nMOSFETs by three-dimensional kinetic Monte-Carlo simulation with multiple trap interactions
其他
2016-01-01
Li, Yun
;
Jiang, Hai
;
Lun, Zhiyuan
;
Wang, Yijiao
;
Huang, Peng
;
Hao, Hao
;
Du, Gang
;
Zhang, Xing
;
Liu, Xiaoyan
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2017/12/03
OXIDE
MODEL
BIAS
DEGRADATION
TECHNOLOGY
DEFECTS
STACKS
NOISE
PBTI
HFO2
Evaulation the Degradation in nMOSFETs with HfO2 Gate Dielectric and Interfacial Layer by 3D Kinetic Monte-Carlo Method
其他
2016-01-01
Li, Yun
;
Lun, Zhiyuan
;
Wang, Yijiao
;
Huang, Peng
;
Jiang, Hai
;
Zhang, Xing
;
Du, Gang
;
Liu, Xiaoyan
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
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提交时间:2017/12/03
Sestrin family may play important roles in the regulation of cardiac pathophysiology
其他
2016-01-01
作者:
Liao, Hai-Han
;
Ruan, Jie-Yun
;
Liu, Huang-Jun
;
Liu, Yuan
;
Feng, Hong
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2019/12/05
Comprehensive Understanding of Hot Carrier Degradation in Multiple-fin SOI FinFETs
其他
2015-01-01
Jiang, Hai
;
Yin, Longxiang
;
Li, Yun
;
Xu, Nuo
;
Zhao, Kai
;
He, Yandong
;
Du, Gang
;
Liu, Xiaoyan
;
Zhang, Xing
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2017/12/03
multi-gate FET
Silicon-on-Insulator
hot carrier
interface charge
oxide charge
reliability
REGIME
Simulation of Positive Bias Temperature Instability (PBTI) in high-k FinFET by KMC method
其他
2015-01-01
Li, Yun
;
Wang, Yijiao
;
Jiang, Hai
;
Du, Gang
;
Kang, Jinfeng
;
Liu, Xiaoyan
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2017/12/03
3D KMC reliability simulation of nano-scaled HKMG nMOSFETs with multiple traps coupling
其他
2015-01-01
Li, Yun
;
Lun, Zhiyuan
;
Huang, Peng
;
Wang, Yijiao
;
Jiang, Hai
;
Du, Gang
;
Liu, Xiaoyan
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2017/12/03
3D KMC Reliability Simulation of Nano-Scaled HKMG nMOSFETs with Multiple Traps Coupling
其他
2015-01-01
Li, Yun
;
Lun, Zhiyuan
;
Huang, Peng
;
Wang, Yijiao
;
Jiang, Hai
;
Du, Gang
;
Liu, Xiaoyan
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2017/12/03
HKMG
nMOSFETs
3D
kinetic Monte-Carlo
multiple traps
coupling
trap generation/recombination
capture time
emission time
threshold voltage shift
trapping
detrapping
PBTI
Fabrication and characterization of the functional parylene-C film with micro/nano hierarchical structures
其他
2015-01-01
Zhang, Xiao-Sheng
;
Su, Zong-Ming
;
Han, Meng-Di
;
Meng, Bo
;
Zhu, Fu-Yun
;
Zhang, Hai-Xia
收藏
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2017/12/04
Micro-electro-mechanical systems (MEMS)
Micro/nano hierarchical structures
Parylene-C
Pattern transfer
Soft lithography
DUAL-SCALE STRUCTURES
SURFACES
ELECTRONICS
SERS
Pain
其他
2013-01-01
作者:
Chen, Jun
;
Han, Ji-Sheng
;
Zhao, Zhi-Qi
;
Wei, Feng
;
Hsieh, Jen-Chuen
收藏
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2019/12/03
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