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科研机构
华南理工大学 [1]
上海大学 [1]
内容类型
会议论文 [2]
发表日期
2016 [1]
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Predicting the Curie temperatures of LaxM1-x-zRzMnyN1-yO3 perovskitesbased on Artificial Neural Network
会议论文
ICMSEA 2016
作者:
刘怡飞[1]
;
翟秀云[2]
;
刘太昂[3]
;
陆文聪[4]
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提交时间:2019/04/26
PZT铁电薄膜存储器件的疲劳机理与对策
会议论文
第十二届全国可靠性物理学术讨论会, 四川都江堰, 2007年10月01日
作者:
陆裕东 [1]
;
何小琦 [2]
;
恩云飞 [2]
;
王歆 [3]
;
庄志强 [3]
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提交时间:2019/04/17
PZT 铁电薄膜器件
疲劳机理
铁电性能
存储器件
极化强度
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