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一种测量隔磁片使用寿命的疲劳试验方法 专利
申请日期: 2016-01-01,
作者:  钱浩[1];  谢永诚[2];  刘刚[3];  王德斌[4];  许艳涛[5]
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一种隔磁片冲击试验测试装置 专利
申请日期: 2016-01-01,
作者:  钱浩[1];  谢永诚[2];  刘刚[3];  王德斌[4];  许艳涛[5]
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一种用于测试隔磁片受冲击过程力学响应的方法 专利
申请日期: 2016-01-01,
作者:  钱浩[1];  谢永诚[2];  刘刚[3];  王德斌[4];  许艳涛[5]
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一种隔磁片翘曲疲劳测试的试验装置 专利
申请日期: 2016-01-01,
作者:  钱浩[1];  谢永诚[2];  刘刚[3];  王德斌[4];  许艳涛[5]
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