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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 内容类型：专利    专题：西安光学精密机械研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 一种使用CMOS探测器的工业相机的自动曝光方法 专利 专利号: CN201810470177.6, 申请日期: 2018-12-21, 公开日期: 2018-09-18 作者:  孔亮;  闫鹏;  温志刚;  武琪敬;  刘永征 收藏  |  浏览/下载：31/0  |  提交时间：2018/12/29 一种重合度测量装置 专利 专利号: CN203464927U, 申请日期: 2014-03-05, 公开日期: 2014-03-05 作者:  商秋芳;  周玉堂;  王震;  张俊杰;  李永刚 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2019/12/24 一种基于单片机的多TEC调温控制系统 专利 专利类型: 发明, 专利号: CN102721243, 申请日期: 2012-10-10, 杜云飞; 高伟; 樊学武; 杨文刚; 宋宗玺; 段永强; 胡炳樑; 乔卫东 收藏  |  浏览/下载：46/0  |  提交时间：2014/05/20 一种可控温焦面探测器机构 专利 专利类型: 发明, 专利号: CN200910311020.X, 申请日期: 2010-08-25, 公开日期: 2010-08-25 杨文刚; 解永杰; 樊学武; 风良杰; 汶德胜 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2011/10/09