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科研机构
上海技术物理研究所 [3]
内容类型
专利 [3]
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2015 [1]
2012 [1]
2006 [1]
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内容类型:专利
专题:上海技术物理研究所
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一种在线测量杜瓦全温度区间冷损的方法
专利
专利号: 201510130240.8, 申请日期: 2015-03-24, 公开日期: 2017-06-27
作者:
1 张海燕 2 管建安 3 汪洋 4 陈安森 5 龚海梅
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提交时间:2017/12/12
一种四方棱镜扫描成像系统的图像非均匀性矫正方法
专利
专利号: 201110098337.7, 申请日期: 2012-01-01, 公开日期: 2013-01-14
作者:
1 刘世超 2 秦洁心 3 林明汉 4 李正文 5 徐惠 6 肖功海 7 亓洪兴 8 陈弈
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2013/01/14
测量激光测高仪/测距仪测距能力的设备和方法
专利
专利号: 200310108724.X, 申请日期: 2006-01-01, 公开日期: 2011-09-07
作者:
1舒嵘2张海洪3胡以华4方抗美5陈育伟
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提交时间:2011/09/07
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