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多级排序算法运用于片上系统内嵌逻辑芯核测试调度的方法 专利
申请日期: 2010-01-01,
作者:  张金艺[1];  翁寒一[2];  李娇[3];  蔡万林[4];  丁梦玲[5]
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集成电路片上系统核间连线故障的测试系统和方法 专利
申请日期: 2010-01-01,
作者:  李娇[1];  张金艺[2];  杨晓冬[3];  蔡万林[4];  施慧[5]
收藏  |  浏览/下载:3/0  |  提交时间:2019/04/30
片上系统中嵌入式逻辑芯核的故障测试系统 专利
申请日期: 2009-01-01,
作者:  张金艺[1];  李娇[2];  王佳[3];  翁寒一[4];  蔡万林[5]
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无线传感网络节点报文信息纠错编码/解码用芯片 专利
申请日期: 2007-01-01,
作者:  张金艺[1];  张雪凡[2];  李娇[3];  左庆华[4];  章天保[5]
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