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一种基于SRAM的FPGA的LUT测试结构及方法 专利
申请日期: 2011-01-01, 公开日期: 2012-02-15
作者:  高成;  俞少华;  王香芬;  黄姣英
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一种基于SRAM的FPGA的LUT测试结构 专利
申请日期: 2011-01-01, 公开日期: 2012-04-11
作者:  高成;  俞少华;  王香芬;  黄姣英
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一种FPGA内连线资源的测试结构及方法 专利
申请日期: 2011-01-01, 公开日期: 2011-12-21
作者:  高成;  俞少华;  黄姣英;  郭伟
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