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科研机构
高能物理研究所 [5]
内容类型
期刊论文 [5]
发表日期
2001 [1]
2000 [1]
1999 [2]
1997 [1]
学科主题
Physics [5]
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学科主题:Physics
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Study of semiconductor super thin heterostructures with synchrotron radiation X-ray standing wave technique
期刊论文
HIGH ENERGY PHYSICS AND NUCLEAR PHYSICS-CHINESE EDITION, 2001, 卷号: 25, 期号: 6, 页码: 588-594
作者:
Jiang XM(姜晓明)
;
Jia QJ(贾全杰)
;
Hu TD(胡天斗)
;
Huang YY(黄宇营)
;
Zheng WL(郑文莉)
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2016/06/28
X-ray standing wave
heterostructure
segregation
atomic position
Development of synchrotron radiation X-ray grazing incident diffraction method
期刊论文
HIGH ENERGY PHYSICS AND NUCLEAR PHYSICS-CHINESE EDITION, 2000, 卷号: 24, 期号: 12, 页码: 1185-1190
作者:
Jiang XM(姜晓明)
;
Jia QJ(贾全杰)
;
Zheng WL(郑文莉)
;
刘鹏(多)
;
Xian DC(冼鼎昌)
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2016/06/29
grazing incident diffraction
surface structure
quantum dot
weak signal
Study of strain in partially relaxed Ge epilayers on Si(100) substrate
期刊论文
APPLIED PHYSICS LETTERS, 1999, 卷号: 75, 期号: 3, 页码: 370-372
作者:
Jiang, ZM
;
Pei, CW
;
Zhou, XF
;
Jiang, WR
;
Shi, B
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2016/06/27
X-ray reflectivity measurement of delta-doped erbium profile in silicon molecular-beam epitaxial layer
期刊论文
PHYSICAL REVIEW B, 1999, 卷号: 59, 期号: 16, 页码: 10697-10700
作者:
Wan, J
;
Jiang, ZM
;
Gong, DW
;
Fan, YL
;
Sheng, C
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浏览/下载:14/0
  |  
提交时间:2016/06/29
Extremely narrow Sb delta-doped epitaxial layer characterized by x-ray reflectivity
期刊论文
CHINESE PHYSICS LETTERS, 1997, 卷号: 14, 期号: 9, 页码: 686-689
作者:
Jiang, ZM
;
Xiu, LS
;
Jiang, XM
;
Zheng, WL
;
Lu, XK
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2016/06/28
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