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一种FTIR测量光电探测器响应的宽谱校正方法 专利
专利号: 201810089435.6, 申请日期: 2018-01-30, 公开日期: 2019-09-27
作者:  张永刚;  邵秀梅;  张忆南;  李雪;  龚海梅
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一种集成亚波长结构的聚合物和纳米材料的InGaAs探测器 专利
专利号: 201810090438.1, 申请日期: 2018-01-30, 公开日期: 2019-09-27
作者:  于一榛;  何玮;  曹高奇;  邓双燕;  杨波
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