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MICROSTRUCTURE AND DIELECTRIC PROPERTIES OF SILICON CARBONITRIDE DIELECTRIC BARRIER FILMS DEPOSITED BY SPUTTERING 期刊论文
2018, 卷号: 25, 期号: 3
作者:  Peng, Yinqiao[1];  Zhou, Jicheng[2];  Gong, Jiehong[3];  Yu, Qinrong[3];  Lei, Guibin[4]
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