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科研机构
西安交通大学 [4]
内容类型
期刊论文 [4]
发表日期
2018 [4]
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发表日期:2018
专题:西安交通大学
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Preliminary single event effect distribution investigation on 28?nm SoC using heavy ion microbeam
期刊论文
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 2018
作者:
Yang, Weitao
;
Du, Xuecheng
;
Guo, Jinlong
;
Wei, Junze
;
Du, Guanghua
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浏览/下载:26/0
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提交时间:2019/11/19
All Programmable SoC
Heavy ion microbeam
Layout information
Modern physics
On chip memory
Partial cross section
Single event effects
System on chips (SoC)
Single-event multiple transients in guard-ring hardened inverter chains of different layout designs
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2018, 卷号: 87, 页码: 151-157
作者:
Zhao, Wen
;
He, Chaohui
;
Chen, Wei
;
Chen, Rongmei
;
Cong, Peitian
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/11/26
Inverter chain
Layout design
Pulsed laser beam
Single-event transient (SET) pulse width
Single-event multiple transients (SEMTs)
Enhanced performance for Eu(iii) ion remediation using magnetic multiwalled carbon nanotubes functionalized with carboxymethyl cellulose nanoparticles synthesized by plasma technology
期刊论文
INORGANIC CHEMISTRY FRONTIERS, 2018, 卷号: 5, 页码: 3184-3196
作者:
Zong, Pengfei
;
Cao, Duanlin
;
Cheng, Yuan
;
Wang, Shoufang
;
Hayat, Tasawar
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2019/11/26
Microbeam Heavy-Ion Single-Event Effect on Xilinx 28-nm System on Chip
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2018, 卷号: 65, 页码: 545-549
作者:
Yang, Weitao
;
Du, Xuecheng
;
He, Chaohui
;
Shi, Shuting
;
Cai, Li
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2019/11/26
microbeam
single-event effect (SEE)
processing system (PS)
Heavy ion
system on chip (SoC)
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