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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2017     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Variation of passivation behavior induced by sputtered energetic particles and thermal annealing for ITO/SiOx/Si system 期刊论文 CHINESE PHYSICS B, 2017, 卷号: 26, 页码: 045201 作者:  Gao, Ming[1];  Du, Hui-Wei[2];  Yang, Jie[3];  Zhao, Lei[4];  Xu, Jing[5] 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2019/04/24 sputtered damage  SiOx/c-Si interface  effective minority carrier lifetime  XPS