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多维度正电子湮没寿命谱和多普勒展宽谱测量系统 专利
专利号: ZLCN201710035856.6, 申请日期: 2017-01-01,
作者:  石见见;  吴奕初;  姚春龙;  刘向兵;  朱喆劼
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