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科研机构
自动化研究所 [1]
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期刊论文 [1]
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2015 [1]
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Surface Defect Detection on Optical Devices Based on Microscopic Dark-Field Scattering Imaging
期刊论文
STROJNISKI VESTNIK-JOURNAL OF MECHANICAL ENGINEERING, 2015, 卷号: 61, 期号: 1, 页码: 24-32
作者:
Yin, Yingjie
;
Xu, De
;
Zhang, Zhengtao
;
Bai, Mingran
;
Zhang, Feng
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提交时间:2015/09/18
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